NB/ISO 8422:2009

Planes de muestreo secuencial para inspección por atributos (Correspondiente a la norma ISO 8422:2006)

Alcance:  Especifica los planes y procedimientos de muestreo secuencial para la inspección por atributos de elementos discretos

Palabra Clave:  Estadística

Sector:  SECTOR 1 NORMAS FUNDAMENTALES

Comité:  Muestreo