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NB/ISO 8422:2009
Planes de muestreo secuencial para inspección por atributos (Correspondiente a la norma ISO 8422:2006)
Alcance: Especifica los planes y procedimientos de muestreo secuencial para la inspección por atributos de elementos discretos
Palabra Clave: Estadística
Sector: SECTOR 1 NORMAS FUNDAMENTALES
Comité: Muestreo
